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論文

Characterization of surface carbon films on weathered Japanese roof tiles by soft X-ray spectroscopy

村松 康司; 山下 満*; 元山 宗之*; 広瀬 美佳*; Denlinger, J. D.*; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*

X-Ray Spectrometry, 34(6), p.509 - 513, 2005/11

 被引用回数:1 パーセンタイル:5.68(Spectroscopy)

軟X線分光法を用いて、いぶし瓦表面炭素膜の耐候性を調べた。軟X線吸収分光測定から、炭素膜の表面では酸化反応が進行し、この酸化状態は主としてカルボキシル基の形成で説明できた。軟X線発光分光測定から、数年程度の外部環境被爆では炭素膜内部の層構造は乱れないことがわかった。以上から、いぶし瓦の耐候性は自然酸化反応が炭素膜の表面から進行することで理解できた。

論文

Element-selective observation of electronic structure transition between semiconducting and metallic states in boron-doped diamond using soft X-ray emission and absorption spectroscopy

飯原 順次*; 村松 康司; 武部 敏彦*; 澤村 明賢*; 難波 暁彦*; 今井 貴浩*; Denlinger, J. D.*; Perera, R. C. C.*

Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 44(9A), p.6612 - 6617, 2005/09

 被引用回数:12 パーセンタイル:43.27(Physics, Applied)

軟X線分光法を用いてホウ素ドープダイヤモンドの半導体-金属間電子構造の変化を観測した。ホウ素濃度が数十ppmから数万ppmに増加するにつれて、ホウ素と炭素原子のバンド構造(価電子帯と伝導帯)が半導体構造から金属構造に変化してゆく様子が明瞭にとらえられた。本分光法によるバンド構造変化の観察は、ダイヤモンド半導体のバンドギャップ制御に重要な情報をもたらす。

論文

Photoemission and core-level absorption spectroscopy of Fe$$_{x}$$NbS$$_{2}$$

斎藤 祐児; 小林 啓介*; 藤森 淳; 山村 泰久*; 小矢野 幹夫*; 辻 利秀*; 片山 信一*

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 144-147, p.829 - 832, 2005/06

 被引用回数:5 パーセンタイル:27.35(Spectroscopy)

2次元層状物質2H-NbS$$_{2}$$にFeをインターカレーションしたFe$$_{x}$$NbS$$_{2}$$(x=0, 0.239, 0.325)の内殻光電子分光,価電子帯の角度分解光電子分光等をSPring-8のBL25SUにおいて実験を行い、明瞭なx依存性を観測した。実験データをもとに、本系のインターカレーションによる電子状態変化を議論する。

論文

Soft X-ray emission spectroscopy of polycyclic aromatic hydrocarbons

村松 康司; 冨澤 加奈; Denlinger, J. D.*; Perera, R. C. C.*

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 137-140(1-3), p.823 - 826, 2004/07

多環式芳香族化合物(PAH)のCKX線発光スペクトルを測定した。分子を構成する炭素原子のうち、分子端の水素化された炭素原子の割合が高いほど、発光ピークのエネルギー位置が高エネルギー側にシフトした。分子軌道計算による解析から、このエネルギーシフトは上記二種類の炭素原子の割合に依存することが確認された。

論文

A New high energy-resolution soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope

寺内 正己*; 小池 雅人

Microscopy and Microanalysis, 9(S02), p.894 - 895, 2003/08

特定したナノスケール領域から、物質の価電子帯状態密度分布を測定することを目的とした軟X線分光電子顕微鏡(TEM-XES装置)の開発を行っている。今回、回折格子から検出器までの距離がこれまでの約2倍(エネルギー分散が2倍)となる新たな不等間隔溝ラミナー型ホログラフィック回折格子をデザインし製作した。このことにより、1000eVで0.7eVのエネルギー分解能が期待できる。

論文

Soft X-ray emission and absorption spectra in the 0 K region of microporous carbon and some reference aromatic compounds

村松 康司; 蔵本 健太郎*; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*

Surface Review and Letters, 9(1), p.267 - 270, 2002/02

 被引用回数:5 パーセンタイル:30.61(Chemistry, Physical)

環境材料として注目されている多孔質炭素において、細孔内部の化学反応特性に強く影響を及ぼすと考えられる細孔表面酸素の化学結合状態を解明するため、多孔質炭素と酸素官能基をもつ参照芳香族化合物のX線発光・吸収スペクトルを測定した。その結果、発光スペクトル測定からは酸化状態を識別することは困難であるが、吸収スペクトル測定から識別できることがわかった。これから、測定に用いた多孔質炭素の細孔表面酸素は-COOHまたは-C(H)O状態にあることがわかり、このX線スペクトル形状は分子軌道計算で説明できることを示した。

論文

Soft X-ray emission spectra in the OK region of oxygen incorporated in microporous carbon

村松 康司; 渡辺 正満*; 上野 祐子*; Shin, S.*; Perera, R. C. C.*

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 114-116, p.301 - 305, 2001/03

 被引用回数:1 パーセンタイル:4.84(Spectroscopy)

多孔質カーボンにおいて、孔内部の吸着特性に強く影響を及ぼすと考えられる酸素の表面化学状態を解明するため、多孔質カーボンといくつかの参照化合物のOK X線発光スペクトルを測定した。分光測定は放射光を励起線とする回折格子軟X線発光分光装置を用いて行った。その結果従来の分光手法では直接検出が困難だった孔表面の酸素を本法により容易に検出できることがわかった。また参照試料の発光スペクトル形状との類似性も観測され、分子軌道計算によるスペクトル解析から、多孔質カーボンの孔表面の酸素は主としてカルボニル基が主成分であることが推察された。

論文

Twin helical undulator beamline for soft X-ray spectroscopy at SPring-8

斎藤 祐児; 中谷 健*; 松下 智裕*; 宮原 恒あき*; 藤沢 正美*; 曽田 一雄*; 室隆 桂之*; 上田 茂典*; 原田 英幸*; 関山 明*; et al.

Journal of Synchrotron Radiation, 5, p.542 - 544, 1998/00

 被引用回数:62 パーセンタイル:94.44(Instruments & Instrumentation)

2つの円偏光アンジュレータを利用した軟X線ビームラインの建設を行っている。円偏光アンジュレータは5つのキッカーマグネットを用いて、同じ光軸上に左右円偏光を取り出すことができる。ビームラインは2枚の前置鏡、不等刻線間隔回折格子を用いた定偏角分光器、2枚の後置鏡により構成されており、1500eV以下の光エネルギー領域をカバーする。光線追跡計算の結果、使用するエネルギー領域すべてにおいて、エネルギー分解能10$$^{4}$$以上が得られることがわかった。実験ステーションでは、この高分解能光を用いて、高分解能光電子分光、内殻光吸収磁気円二色性、2次元光電子分光装置の建設も進めている。

口頭

1$$sim$$3.5keV領域をカバーするワイドバンドNi/C多層膜回折格子を用いた平面結像型軟X線分光計の設計

今園 孝志; 小池 雅人; 倉本 智史*; 長野 哲也*; 小枝 勝*

no journal, , 

CIS薄膜太陽電池において光吸収層を構成するCu, In, SeからのL発光線(Cu: 0.9keV, In: 3.4keV, Se: 1.4keV)を計測するための平面結像型軟X線回折格子分光器を設計した。当該領域(0.9$$sim$$3.4keV)を一定入射角でカバーするために、非周期Ni/C多層膜をラミナー型不等間隔溝回折格子に積層したワイドバンド多層膜回折格子を考案した。回折格子及び検出器の駆動機構が不要なため、全エネルギー領域を同時に高分解計測することができる。

口頭

FE-SEM/EPMA軟X線分光法による微量超軽元素分析

高橋 秀之*; 朝比奈 俊輔*; 村野 孝訓*; 高倉 優*; 寺内 正己*; 小池 雅人; 今園 孝志; 小枝 勝*; 長野 哲也*; 笹井 浩行*; et al.

no journal, , 

市販のEPMAおよびFE-SEMに搭載できる分光範囲50$$sim$$210eVの軟X線分光器(SXES)を開発した。このSXESは、光電子分光器(XPS)や電子エネルギー損失分光器(EELS)に匹敵する高いエネルギー分解能(0.2eV程度)を持ち、更に、高P/B比と高感度なことにより微量超軽元素分析が可能である。この特長により、FE-SEMを用いても鋼中の微量炭素を100ppm以下の感度で検出できること、微小領域における微量超軽元素の観察・分析に有効であることがわかった。

口頭

Development of a flat-field spectrograph with a Ni/C multilayer grating covering the range 1-3.5 keV at a fixed incident angle

今園 孝志

no journal, , 

一定の入射角で1$$sim$$3.5keV領域をカバーする非周期Ni/C多層膜回折格子を搭載した平面結像型分光器を開発した。この多層膜は共に5.6nmの周期長を持つ2種類の二層膜から構成されている。一つは、多層膜周期長に対するNi厚の比が0.5、膜総数は79の標準的なNi/C多層膜である。最上層はCである。もう一方は、膜厚比0.8で、膜順序が逆のC/Ni二層膜である。結果的に、最上層であるNiの直下のC層は厚さ3.92nmの連続膜となる。非周期多層膜は格子定数1/2400mm、溝深さ2.8nm、デューティ比0.5のラミナ型回折格子上に積層された。その回折効率は、2.1$$sim$$3.3keVにおいて0.8$$sim$$5.4%を示し、多層膜を積層する前のAuコート回折格子に比べて、2.1keVで7倍、2.3keVで4470倍、3.0keVで102倍と著しく向上した。これは非周期Ni/C多層膜によってもたらされたことを示すものである。

口頭

酸化物膜付加による高回折効率軟X線ラミナー型回折格子の設計

小池 雅人; 長野 哲也*

no journal, , 

最近自動車用のフレーム等構造材の軽量化のために使用が進んでいる高張力鋼(ハイテン)の製造には炭素をはじめ、Si, Mn, Ti, Bなど、10数種類の元素の配分をppmレベルで管理することが必要とされている。特にBは他の元素とどのように相互作用し各種の物性が起きるのか未解明の部分が大きく解明が必要とされている。われわれはB-K発光(6.76nm)周辺の波長域において従来の金等の金属単層膜を用いたラミナー型回折格子の回折効率を飛躍的に高める新しい方法を発見した。この現象は、全反射の起きる斜入射領域において、格子溝の金属層上にさらに消衰係数の小さい(透明な)高密度材料膜を一定の厚さ形成することにより発現する。この透明な高密度材料は、真空と金属層の中間の屈折率を有することが望ましい。TiO$$_{2}$$, CeO$$_{2}$$等は、この基準を満たす有望な候補を参加の一つであることがわかった。数値計算の結果、6.76nmでの回折効率は、TiO$$_{2}$$, CeO$$_{2}$$の双方の場合6.76nmでの回折効率はどちらも22%であり、Niの15.6%やAuの14.1%からの大幅な向上が期待される。

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